Центр колективного користування науковим обладнанням «ДДСМС» НАН України

Ласкаво просимо на веб-сторінку Центру колективного користування науковим обладнанням «ДДСМС» НАН України!

Центр колективного користування науковим обладнанням для дослідження і діагностики субмікронних та мікрорельєфних структур є провідним майданчиком для проведення високоточних наукових досліджень та технологічного аналізу. Центр створено на базі Інституту проблем реєстрації інформації НАН України з метою забезпечення доступу до унікального високотехнологічного обладнання для наукових установ, організацій та дослідників.

Ми пропонуємо широкий спектр послуг із проведення досліджень, аналітики та технічної експертизи, використовуючи сучасне обладнання, яке відповідає найвищим міжнародним стандартам. Завдяки нашим можливостям, науковці отримують доступ до новітніх методик та технологій, що сприяє розвитку інноваційних рішень у різних галузях науки та техніки.

Наші основні завдання:

• Надання дослідникам доступу до сучасного обладнання для проведення комплексних аналізів і діагностики;
• Сприяння розвитку наукових досліджень та технологічних розробок;
• Забезпечення якісного технічного обслуговування та підтримки;
• Створення сприятливих умов для співпраці між науковими установами та промисловими підприємствами.

Запрошуємо до співпраці науковців, дослідників та підприємства, які прагнуть отримати доступ до сучасних технологій та розширити свої можливості у сфері аналітичних досліджень.Основні цілі Центру:

1. Оптимізація ресурсів наукової спільноти.

• Забезпечення спільного доступу до дороговартісного обладнання вітчизняного та імпортного виробництва для проведення передових досліджень.

• Використання централізованих коштів, спільного фінансування груп установ та організацій НАН України для розвитку наукової інфраструктури.

2. Якісне та безперебійне функціонування обладнання.

• Забезпечення професійного технічного обслуговування та підтримки роботи наукових приладів.
• Надання користувачам високого рівня технічної підтримки та консалтингових послуг.

3. Максимальна доступність послуг.

• Гарантія відсутності штучних обмежень у використанні обладнання для наукових установ і організацій НАН України.
• Створення прозорої та зручної системи доступу до послуг Центру.

4. Сприяння розвитку наукових досліджень.

• Надання можливостей для проведення фундаментальних та прикладних досліджень у галузях нанотехнологій, матеріалознавства, біомедицини та інших наукових напрямках.
• Підтримка спільних наукових проєктів і міждисциплінарних досліджень.

5. Ефективне використання робочого часу науковців.

• Створення сприятливих умов для максимально продуктивного використання робочого часу користувачів Центру.
• Оптимізація організації досліджень для досягнення найкращих результатів у мінімальні терміни.

Актуальні проблеми наукових досліджень, для вирішення яких створено Центр

Центр колективного користування науковим обладнанням дослідження і діагностики субмікронних і мікрорельєфних структур створено на базі Інституту проблем реєстрації інформації НАН України з метою найбільш ефективного використання сучасного високоточного обладнання для задоволення потреб наукових установ України у сфері дослідження, аналізу та діагностики мікро- та субмікронних структур.Центр включає п’ять спеціалізованих лабораторій:

• Лабораторія формування субмікронних структур методом прямого лазерного запису – здійснює дослідження і розробку технологій створення субмікронних структур з використанням лазерних систем високої точності, що дозволяє отримувати нанорельєфи з контрольованими параметрами для застосування в оптоелектроніці, біомедичних сенсорах та інформаційних технологіях.
• Лабораторія вимірювання характеристик тонких плівок – спеціалізується на аналізі фізико-механічних та оптичних властивостей наноплівок, використовуючи методи еліпсометрії, спектрофотометрії та електронної мікроскопії для оцінки товщини, складу та якості покриттів, що використовуються у мікроелектроніці та нанотехнологіях.
• Лабораторія оптичної мікроскопії високої роздільної здатності – здійснює дослідження мікрорельєфних структур з використанням передових оптичних методів, що дозволяє отримувати зображення з високою деталізацією для аналізу біологічних об’єктів, наноматеріалів та електронних компонентів.

Центр активно співпрацює з науковими установами, промисловими підприємствами та освітніми закладами, надаючи широкий спектр послуг, зокрема:

• розробку нових технологій формування та аналізу мікро- та субмікронних структур;
• проведення комплексних випробувань та досліджень для промислового виробництва;
• консультування та навчання спеціалістів у галузі нанотехнологій та матеріалознавства.

Організаційний статус Центру‍

ЦККО СКК "ДДСМС" входить до складу Інституту проблем реєстрації інформації НАН України і підпорядкований безпосередньо дирекції Інституту, без статусу юридичної особи. ЦККО СКК " ДДСМС " створений на базі відділу оптичного запису інформації Інституту проблем реєстарції інформації НАН України.  
Фахівці Центру

Керівник ЦККО СКК "ДДСМС": заступник директора Інституту проблем реєстрації інформації НАН України з наукової роботи, член-кореспондент НАН України, док. фіз.-мат. наук, проф. Крючин Андрій Андрійович (тел.: 044-454-21-52, e-mail: kryuchyn@ipri.kiev.ua)

Відповідальний за роботу ЦККО СКК "ДДСМС": канд. фіз.-мат. наук, с.н.с. Манько Дмитро Юрійович (тел.: 044-454-22-09, e-mail: d.y.manko@nas.gov.ua)

Відповідальні виконавці - співробітники ЦККО СКК "ДДСМС":

Буток Олександр Миколайович м.н.с. відділу оптичних носіїв інформації (тел.: 044-454-21-25, e-mail: butok.alexander@gmail.com)

Чегіль Юрій Іванович аспірант інституту проблем реєстрації інформації НАН України (тел.: 044-454-21-25, e-mail: chosenone@ukr.net).

Шиховець Олексій Віталійович н.с. відділу оптичних носіїв інформації (тел.: 044-454-21-90, e-mail: buta@ua.fm).‍

Опис технічних показників приладів/обладнання Центру

Поточний склад апаратного забезпечення ЦККО СКК " ДДСМС

"Мікроскоп ZEISS Axio Imager 2 – інноваційне рішення для передових досліджень!

ZEISS Axio Imager 2 – це втілення передових технологій, що відкриває нові можливості для детального аналізу зразків із максимальною точністю та чіткістю. Завдяки інноваційній оптичній системі та інтелектуальним функціям, цей мікроскоп стане вашим незамінним помічником у біологічних, медичних, матеріалознавчих і технічних дослідженнях.

• Неперевершена якість зображення. Висококонтрастна оптика IC²S, скоригована на нескінченність, забезпечує точну передачу деталей і дозволяє отримати надзвичайно чіткі зображення навіть найдрібніших структур. Освітлювальна система з апохроматичним колектором гарантує рівномірне освітлення зразка без спотворень і тіней.
• Інтелектуальні можливості. Автоматичні функції мікроскопа дозволяють легко керувати параметрами освітлення, контрасту та фокусування, що забезпечує швидку та ефективну роботу без зайвих налаштувань.
• Зручність та ергономічність. Інтуїтивний інтерфейс із сенсорним дисплеєм забезпечує просте управління, а ергономічний дизайн гарантує комфортну роботу протягом тривалого часу без втоми.
• Гнучкість у використанні. Мікроскоп ідеально підходить для широкого спектра застосувань – від рутинних лабораторних досліджень до складних наукових експериментів.

ZEISS Axio Imager 2 універсальний інструмент, що відповідає найвищим стандартам якості та продуктивності. Використання сучасних матеріалів і передових технологій у поєднанні з багаторічним досвідом компанії ZEISS роблять цей мікроскоп найкращим вибором для фахівців, які прагнуть досягти точних і надійних результатів.

Автоматизація ключових процесів дозволяє зосередитися на дослідженнях, а не на налаштуванні обладнання. Незалежно від складності завдання, ви завжди отримаєте відтворювані результати найвищої якості. Потужні програмні рішення ZEISS забезпечують додаткові можливості для аналізу даних та управління зображеннями.
Еліпсометр ЛЕФ 3М-1 Елліпсометр ЛЕФ-3М-1 — це прилад, призначений для вимірювання змін стану поляризації світла при відбитті від поверхні досліджуваного зразка. Він широко використовується у дослідженнях фізики поверхонь як у промисловості, так і в науково-дослідних установах.Застосування елліпсометра ЛЕФ-3М-1:

• Вимірювання змін стану поляризації світла на поверхні досліджуваних зразків.
• Дослідження фізичних властивостей тонких плівок та покриттів.
• Контроль технологічних процесів у виробництві напівпровідникових пристроїв та наноматеріалів.

Пристрій використовувався для оцінки товщини і оптичних параметрів тонких плівок, таких як коефіцієнт заломлення і поглинання. Основні галузі застосування – мікроелектроніка, оптоелектроніка, матеріалознавство та нанотехнології.

‍Станція лазерного запису мікроних і субмікроних структур.

Станція лазерного запису мікронних і субмікронних структур є унікальною розробкою ІПРІ НАНУ — це високотехнологічна установка, призначена для створення надточних мікро- та нанорельєфів на поверхні матеріалів за допомогою лазерного випромінювання.

Ця технологія дозволяє формувати складні структури з високою роздільною здатністю, що знаходять застосування в оптоелектроніці, фотоніці, біомедичних сенсорах та інших передових галузях науки і техніки.

‍Принцип роботи:

‍ Метод прямого лазерного запису (Direct Laser Writing, DLW) базується на фокусуванні ультракоротких лазерних імпульсів на поверхні матеріалу або всередині фоточутливого середовища. Під дією лазерного випромінювання відбувається локальна зміна властивостей матеріалу, що дозволяє створювати тривимірні структури з розмірами в діапазоні від декількох нанометрів до сотень мікрометрів.Переваги методу:

• Висока роздільна здатність
• Гнучкість дизайну
• Швидкість

Використання станцій лазерного запису мікронних і субмікронних структур відкриває широкі можливості для досліджень та розробок у сфері нанотехнологій, забезпечуючи високоточне виготовлення складних мікроструктур з широким спектром застосувань.